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常見(jiàn)問(wèn)題


增強(qiáng)型MOS管和耗盡型MOS管的區(qū)別

作者:shan 來(lái)源:本站 點(diǎn)擊:0 時(shí)間:2025-06-26 10:58:24

功率MOSFET分為耗盡型(DM)和增強(qiáng)型(EM)兩種,兩者主要在于導(dǎo)電溝道的區(qū)別,兩者的控制方式不同。  

耗盡型MOS管的G端在不施加電壓時(shí)就會(huì)有導(dǎo)電溝道的存在,增強(qiáng)型MOS管則相反,只有在開(kāi)啟后,才會(huì)出現(xiàn)導(dǎo)電溝道,它的Vgs必須大于柵極閾值電壓才行。  

耗盡型MOS管的Vgs(柵極電壓)則可以正、零、負(fù)電壓控制導(dǎo)通。若要使漏極和源極不導(dǎo)通,則需要在柵極處施加一定的負(fù)電壓,通常會(huì)把耗盡型MOSFET理解成一種“常閉開(kāi)關(guān)”。

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耗盡型場(chǎng)效應(yīng)管  

溝道耗盡型MOSFET的結(jié)構(gòu)與增強(qiáng)型MOSFET結(jié)構(gòu)類(lèi)似,只有一點(diǎn)不同,就是N溝道耗盡型MOSFET在柵極電壓uGS=0時(shí),溝道已經(jīng)存在。該N溝道是在制造過(guò)程中應(yīng)用離子注入法預(yù)先在襯底的表面,在D、S之間制造的,稱(chēng)之為初始溝道。N溝道耗盡型MOSFET的結(jié)構(gòu)和符號(hào)如圖1.(a)所示,它是在柵極下方的SiO2絕緣層中摻入了大量的金屬正離子。所以當(dāng)VGS=0時(shí),這些正離子已經(jīng)感應(yīng)出反型層,形成了溝道。于是,只要有漏源電壓,就有漏極電流存在。當(dāng)VGS>0時(shí),將使ID進(jìn)一步增加。VGS<0時(shí),隨著VGS的減小漏極電流逐漸減小,直至ID=0。對(duì)應(yīng)ID=0的VGS稱(chēng)為夾斷電壓,用符號(hào)VGS(off)表示,有時(shí)也用VP表示。N溝道耗盡型MOSFET的轉(zhuǎn)移特性曲線(xiàn) (插圖)   由于耗盡型MOSFET在uGS=0時(shí),漏源之間的溝道已經(jīng)存在,所以只要加上uDS,就有iD流通。如果增加正向柵壓uGS,柵極與襯底之間的電場(chǎng)將使溝道中感應(yīng)更多的電子,溝道變厚,溝道的電導(dǎo)增大。   如果在柵極加負(fù)電壓(即uGS<0=,就會(huì)在相對(duì)應(yīng)的襯底表面感應(yīng)出正電荷,這些正電荷抵消N溝道中的電子,從而在襯底表面產(chǎn)生一個(gè)耗盡層,使溝道變窄,溝道電導(dǎo)減小。當(dāng)負(fù)柵壓增大到某一電壓Up時(shí),耗盡區(qū)擴(kuò)展到整個(gè)溝道,溝道完全被夾斷(耗盡),這時(shí)即使uDS仍存在,也不會(huì)產(chǎn)生漏極電流,即iD=0。UP稱(chēng)為夾斷電壓或閾值電壓,其值通常在–1V–10V之間N溝道耗盡型MOSFET的結(jié)構(gòu)圖和轉(zhuǎn)移特性曲線(xiàn)分別如圖所示。

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耗盡型場(chǎng)效應(yīng)管

增強(qiáng)型是指:當(dāng)VGS=0時(shí)管子是呈截止?fàn)顟B(tài),加上正確的VGS后,多數(shù)載流子被吸引到柵極,從而“增強(qiáng)”了該區(qū)域的載流子,形成導(dǎo)電溝道。當(dāng)柵極加有電壓時(shí),若0<VGS<VGS(th)時(shí),通過(guò)柵極和襯底間形成的電容電場(chǎng)作用,將靠近柵極下方的P型半導(dǎo)體中的多子空穴向下方排斥,出現(xiàn)了一薄層負(fù)離子的耗盡層;同時(shí)將吸引其中的少子向表層運(yùn)動(dòng),但數(shù)量有限,不足以形成導(dǎo)電溝道,將漏極和源極溝通,所以仍然不足以形成漏極電流ID。進(jìn)一步增加VGS,當(dāng)VGS>VGS(th)時(shí)( VGS(th)稱(chēng)為開(kāi)啟電壓),由于此時(shí)的柵極電壓已經(jīng)比較強(qiáng),在靠近柵極下方的P型半導(dǎo)體表層中聚集較多的電子,可以形成溝道,將漏極和源極溝通。如果此時(shí)加有漏源電壓,就可以形成漏極電流ID。在柵極下方形成的導(dǎo)電溝道中的電子,因與P型半導(dǎo)體的載流子空穴極性相反,故稱(chēng)為反型層。隨著VGS的繼續(xù)增加,ID將不斷增加。在VGS=0V時(shí)ID=0,只有當(dāng)VGS>VGS(th)后才會(huì)出現(xiàn)漏極電流,所以,這種MOS管稱(chēng)為增強(qiáng)型MOS管。VGS對(duì)漏極電流的控制關(guān)系可用iD=f(VGS(th))|VDS=const這一曲線(xiàn)描述,稱(chēng)為轉(zhuǎn)移特性曲線(xiàn),如下圖

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工作原理不同  

增強(qiáng)型MOS管(Enhancement Mode MOSFET)在柵極電壓為零時(shí),溝道不導(dǎo)電,即處于截止?fàn)顟B(tài)。只有當(dāng)柵極電壓大于閾值電壓時(shí),溝道才開(kāi)始導(dǎo)電,漏極和源極之間才有電流流過(guò)。因此,增強(qiáng)型MOS管需要正柵壓才能工作,具有常閉特性。  耗盡型MOS管(Depletion Mode MOSFET)在柵極電壓為零時(shí),溝道已經(jīng)存在并導(dǎo)電,即處于導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)柵極施加負(fù)電壓時(shí),溝道變窄,導(dǎo)電能力減弱;當(dāng)柵極電壓降至某一負(fù)值時(shí),溝道完全消失,管子截止。因此,耗盡型MOS管可以在零柵壓或負(fù)柵壓下工作,具有常開(kāi)特性。  

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)不同  

增強(qiáng)型MOS管的柵極與溝道之間通過(guò)一層絕緣的氧化物隔開(kāi),形成電容結(jié)構(gòu)。當(dāng)柵極施加正電壓時(shí),電容充電,吸引溝道中的電子向柵極靠近,從而形成導(dǎo)電溝道。這種結(jié)構(gòu)使得增強(qiáng)型MOS管具有較高的輸入阻抗和較好的隔離性能。  耗盡型MOS管在結(jié)構(gòu)上與增強(qiáng)型類(lèi)似,但其溝道在零柵壓時(shí)已經(jīng)存在。這通常是通過(guò)在制造過(guò)程中調(diào)整溝道區(qū)域的雜質(zhì)濃度來(lái)實(shí)現(xiàn)的。耗盡型MOS管的柵極電壓變化主要影響溝道的寬度和導(dǎo)電能力,而不是溝道的形成。  

性能表現(xiàn)不同  

由于工作原理和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)的差異,增強(qiáng)型和耗盡型MOS管在性能上也有所區(qū)別。增強(qiáng)型MOS管具有較高的開(kāi)關(guān)速度和較低的導(dǎo)通電阻,適用于高頻、高速電路。同時(shí),由于常閉特性,它在電力電子系統(tǒng)中也具有良好的安全性能。  耗盡型MOS管雖然開(kāi)關(guān)速度相對(duì)較低,但其導(dǎo)通電阻較小且在大電流下變化不大,因此具有較好的線(xiàn)性放大特性。此外,耗盡型MOS管可以在負(fù)柵壓下工作,這使得它在某些特定應(yīng)用場(chǎng)景中具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。  

應(yīng)用場(chǎng)景不同  

基于上述性能特點(diǎn),增強(qiáng)型和耗盡型MOS管在應(yīng)用場(chǎng)景上也有所不同。增強(qiáng)型MOS管廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路以及電力電子系統(tǒng)中,如開(kāi)關(guān)電源、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等。其常閉特性保證了系統(tǒng)的安全性和可靠性。  耗盡型MOS管則主要應(yīng)用于模擬電路中的線(xiàn)性放大、電壓調(diào)節(jié)以及需要負(fù)柵壓工作的特殊場(chǎng)合。例如,在某些音頻放大器中,耗盡型MOS管可以提供更好的音質(zhì)和更低的失真度。  綜上所述,增強(qiáng)型和耗盡型MOS管在工作原理、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、性能表現(xiàn)及應(yīng)用場(chǎng)景等方面均存在顯著差異。了解和掌握這些差異有助于我們更好地選擇和使用適合的MOS管類(lèi)型,以滿(mǎn)足不同的電路設(shè)計(jì)需求。

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